面向CPU芯片的验证技术研究
胡建国; 位招勤; 张旭; 曾献君
2007-02-20
发表期刊微电子学
ISSN1004-3365
卷号No.207期号:01页码:16-19+23
摘要CPU芯片规模大、复杂度高,在芯片设计的不同阶段进行多层次的验证,保证芯片的正确性非常关键。文章探讨了模拟验证、FPGA仿真、形式验证和静态时序分析等验证方法,提出了一种多级验证体系方法,实现CPU芯片的多层次验证,并成功地验证了自行设计的微处理器的正确性和兼容性。
关键词CPU 模拟验证 FPGA仿真 形式验证 静态时序分析 多级验证
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收录类别北大核心
语种中文
资助项目国家自然科学基金重大研究计划资助项目(90207011);国家高技术研究发展(863)计划资助项目(2002AA110020);校预研基金资助项目(JC03-06-007)
原始文献类型学术期刊
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.library.ouchn.edu.cn/handle/39V7QQFX/109660
专题国家开放大学湖南分部
作者单位1.国防科技大学计算机学院
2.湖南广播电视大学
推荐引用方式
GB/T 7714
胡建国,位招勤,张旭,等. 面向CPU芯片的验证技术研究[J]. 微电子学,2007,No.207(01):16-19+23.
APA 胡建国,位招勤,张旭,&曾献君.(2007).面向CPU芯片的验证技术研究.微电子学,No.207(01),16-19+23.
MLA 胡建国,et al."面向CPU芯片的验证技术研究".微电子学 No.207.01(2007):16-19+23.
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