求取电路最小测试集的优化算法的比较研究
张菲菲; 鲁昌华; 陈胜军; 王妍妍
2005-12-20
发表期刊国外电子测量技术
ISSN1002-8978
期号12页码:22-25
摘要离散事件系统(DES)理论的发展为数模混合电路中的数字信号和模拟信号的测试提供了一种统一、系统、有效的方法。在基于DES理论的电路可测试性研究中,其中重要的一项工作就是求取电路的最小测试集。首先介绍了目前求取电路最小测试集的几种优化算法的思想和实现方案,然后对它们进行了比较,并对下一步研究方向进行了展望。
关键词离散事件系统(DES) 最小测试集 遗传算法 模拟退火 GASA混合策略
DOI10.19652/j.cnki.femt.2005.12.009
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语种中文
资助项目安徽省教育厅自然科学基金项目(NO2004kj081)
原始文献类型学术期刊
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.library.ouchn.edu.cn/handle/39V7QQFX/117793
专题国家开放大学安徽分部
作者单位合肥工业大学;安徽广播电视大学
第一作者单位国家开放大学安徽分部
第一作者的第一单位国家开放大学安徽分部
推荐引用方式
GB/T 7714
张菲菲,鲁昌华,陈胜军,等. 求取电路最小测试集的优化算法的比较研究[J]. 国外电子测量技术,2005(12):22-25.
APA 张菲菲,鲁昌华,陈胜军,&王妍妍.(2005).求取电路最小测试集的优化算法的比较研究.国外电子测量技术(12),22-25.
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