| 关于电子设备的可靠性设计问题 |
| 任庚敏; 林松茂
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| 1987-07-30
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| 发表期刊 | 河南科技
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| ISSN | 1003-5168
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| 期号 | 07页码:12-13+6 |
| 摘要 | <正> 为适应科学技术特别是综合的尖端技术的发展,电子设备日趋多功能、自动化、智能化。这就对电子设备的可靠性、自适应性提出更高的要求。因此,在做电子设备电气性能设计的同时,要专门进行可靠性能设计。RAS 技术就在这种条件下应运而生。一、RAS 技术与设备可靠性RAS(即可靠性、有效性、可用性)技术旨在尽量减少硬设故障,将其对系统的影响降至最低限度。对出现的故障,及时发现,及时处理。为此应采用如下措施: |
| 关键词 | 全加器
可靠性设计
电子设备
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| URL | 查看原文
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| 语种 | 中文
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| 原始文献类型 | 学术期刊
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | http://ir.library.ouchn.edu.cn/handle/39V7QQFX/133987
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| 专题 | 国家开放大学河南分部
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| 作者单位 | 河南省广播电视大学
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| 第一作者单位 | 国家开放大学河南分部
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| 第一作者的第一单位 | 国家开放大学河南分部
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
任庚敏,林松茂. 关于电子设备的可靠性设计问题[J].
河南科技,1987(07):12-13+6.
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| APA |
任庚敏,&林松茂.(1987).关于电子设备的可靠性设计问题.河南科技(07),12-13+6.
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| MLA |
任庚敏,et al."关于电子设备的可靠性设计问题".河南科技 .07(1987):12-13+6.
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