| 一种基于机器视觉的磁瓦表面缺陷检测方法及系统 |
| 张墩利; 周国栋; 李晔
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| 2023-06-30
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| 原始专利权人 | 湖南开放大学(湖南网络工程职业学院、湖南省干部教育培训网络学院)
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| 授权国家 | 中国
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| 摘要 | 本发明公开了一种基于机器视觉的磁瓦表面缺陷检测方法及系统。方法包括：S1、计算图像的局部亮区差值P |
| 申请日期 | 2023-04-08
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| 语种 | 中文
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| 专利状态 | 实质审查
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| 申请号 | CN202310368203.5
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| 公开（公告）号 | CN116363112A
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| IPC 分类号 | G06T7/00
; G06T7/13
; G06T7/12
; G06T5/00
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| 专利代理人 | 孙建霞
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| 代理机构 | 长沙睿翔专利代理事务所(普通合伙)
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| CPC分类号 | G06T7/0004
; G06T7/13
; G06T7/12
; G06T5/001
; G06T2207/30108
; Y02P90/30
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| 专利类型 | 发明申请
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| 文献类型 | 专利
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| 条目标识符 | http://ir.library.ouchn.edu.cn/handle/39V7QQFX/162432
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| 专题 | 国家开放大学湖南分部
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| 作者单位 | 湖南开放大学(湖南网络工程职业学院、湖南省干部教育培训网络学院)
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| 第一作者单位 | 国家开放大学湖南分部
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
张墩利,周国栋,李晔. 一种基于机器视觉的磁瓦表面缺陷检测方法及系统[P]. 2023-06-30.
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文件名：
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CN202310368203.5.PDF
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格式：
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Adobe PDF
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