| 一种半导体器件检测用四探针测试仪 |
| 卫静婷; 陈利伟
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| 2020-11-10
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| 原始专利权人 | 广东开放大学(广东理工职业学院)
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| 授权国家 | 中国
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| 摘要 | 本实用新型公开了一种半导体器件检测用四探针测试仪，包括测试仪本体，所述测试仪本体上端中部固定连接有等距分布的减震弹簧，所述测试仪本体左右两侧上端均固定连接有卡块，所述测试仪本体上端活动连接有测试架底板，所述测试架底板上端固定连接有左右对称设置的垂直侧板，所述垂直侧板和另一垂直侧板间固定连接有顶板，所述顶板上开设有螺纹孔，所述螺纹孔内螺纹连接有丝杆，所述丝杆下端转动连接有固定座，所述固定座下端固定连接有安装座。该半导体器件检测用四探针测试仪，提高装置的稳定性，缩小装置占地面积，进一步提高测试仪本体与测试架底板间连接的牢固性，提高测试架底板的减震效果，有效提高安装座上下移动时的平稳性。 |
| 申请日期 | 2020-03-25
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| 语种 | 中文
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| 专利状态 | 授权
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| 申请号 | CN202020392377.7
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| 公开（公告）号 | CN211905462U
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| IPC 分类号 | G01R1/073
; G01R31/26
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| 专利代理人 | 周小涛
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| 代理机构 | 深圳市鼎泰正和知识产权代理事务所(普通合伙)
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| 专利类型 | 实用新型
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| 授权日期 | 2020-11-10
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| 文献类型 | 专利
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| 条目标识符 | http://ir.library.ouchn.edu.cn/handle/39V7QQFX/164645
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| 专题 | 国家开放大学广东分部
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| 作者单位 | 广东开放大学(广东理工职业学院)
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| 第一作者单位 | 国家开放大学广东分部
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
卫静婷,陈利伟. 一种半导体器件检测用四探针测试仪[P]. 2020-11-10.
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文件名：
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CN202020392377.7.PDF
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格式：
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Adobe PDF
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