| 微控制器在电容测量中的应用 | |
| 袁慧1; 赵四化2; 武戎3 | |
| 2012-10-20 | |
| 发表期刊 | 微电子学
 |
| ISSN | 1004-3365 |
| 卷号 | 42期号:05页码:745-748 |
| 摘要 | 传统的电容测量方法在硬件和软件方面均存在诸多弊端。提出了一种新的电容检测方法。该方法利用555芯片电路,将电容值转变成555输出频率,进而通过单片机对555输出的频率进行测量。仿真结果表明,该方法具有较高的测量精度,可将测量误差缩小到4%左右。 |
| 关键词 | 微控制器 电容测量 555芯片电路 |
| URL | 查看原文 |
| 收录类别 | 北大核心 ; CSCD |
| 语种 | 中文 |
| 原始文献类型 | 学术期刊 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.library.ouchn.edu.cn/handle/39V7QQFX/82837 |
| 专题 | 国家开放大学四川分部 |
| 作者单位 | 1.四川广播电视大学教学处; 2.成都电子机械高等专科学校电气与电子工程系; 3.成都电子机械高等专科学校网络中心 |
| 第一作者单位 | 国家开放大学四川分部 |
| 第一作者的第一单位 | 国家开放大学四川分部 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 袁慧,赵四化,武戎. 微控制器在电容测量中的应用[J]. 微电子学,2012,42(05):745-748. |
| APA | 袁慧,赵四化,&武戎.(2012).微控制器在电容测量中的应用.微电子学,42(05),745-748. |
| MLA | 袁慧,et al."微控制器在电容测量中的应用".微电子学 42.05(2012):745-748. |
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