| 关键技术对非对称型GCT的影响 | |
| 吴琳 | |
| 2010-06-15 | |
| 发表期刊 | 信息与电脑(理论版)
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| ISSN | 1003-9767 |
| 卷号 | No.216期号:12页码:32+34 |
| 摘要 | 在建立GCT器件模型的基础上,利用silvaco软件,研究了缓冲层与透明阳极结构对GCT性能影响。模拟结果表明,决定GCT的通态压降的关键因素是缓冲层与透明阳极各自区域中的总杂质量。通过协调各自区域的峰值掺杂浓度与厚度,可以合理地控制该区域的总杂质量,降低GCT的通态压降。这些结果对于进一步优化GCT器件设计与制造有着重要的参考价值。 |
| 关键词 | silvaco 缓冲层 透明阳极 通态压降 |
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| 语种 | 中文 |
| 原始文献类型 | 学术期刊 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.library.ouchn.edu.cn/handle/39V7QQFX/90562 |
| 专题 | 国家开放大学辽宁分部 |
| 作者单位 | 辽宁广播电视大学 |
| 第一作者单位 | 国家开放大学辽宁分部 |
| 第一作者的第一单位 | 国家开放大学辽宁分部 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 吴琳. 关键技术对非对称型GCT的影响[J]. 信息与电脑(理论版),2010,No.216(12):32+34. |
| APA | 吴琳.(2010).关键技术对非对称型GCT的影响.信息与电脑(理论版),No.216(12),32+34. |
| MLA | 吴琳."关键技术对非对称型GCT的影响".信息与电脑(理论版) No.216.12(2010):32+34. |
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