屏蔽效应与斯莱特规则的应用 | |
李凤东 | |
2010-12-28 | |
发表期刊 | 电大理工
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ISSN | 1003-3319 |
卷号 | No.245期号:04页码:42-43 |
摘要 | 多电子原子核外电子排布规律是决定原子化学性质的关键,如电离能的大小、原子半径的大小等等。电子在原子轨道中所处的位置决定了它的能量的高低,而电子应处在最低能量状态即遵循最低能量原理,这一原理与原子轨道理论在一些特殊情况相矛盾。用屏蔽效应和斯莱特规则通过计算可以有效解释多电子原子核外电子排布的特殊案件。 |
关键词 | 屏蔽效应 斯莱特规则 计算说明 能级交错 |
URL | 查看原文 |
语种 | 中文 |
原始文献类型 | 学术期刊 |
文献类型 | 期刊论文 |
条目标识符 | http://ir.library.ouchn.edu.cn/handle/39V7QQFX/92237 |
专题 | 国家开放大学 |
作者单位 | 朝阳广播电视大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 李凤东. 屏蔽效应与斯莱特规则的应用[J]. 电大理工,2010,No.245(04):42-43. |
APA | 李凤东.(2010).屏蔽效应与斯莱特规则的应用.电大理工,No.245(04),42-43. |
MLA | 李凤东."屏蔽效应与斯莱特规则的应用".电大理工 No.245.04(2010):42-43. |
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